基于SRAM的FPGA容错技术 pdf下载

出版社中国宇航出版社

出版年 2009-12

页数 390页

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内容简介

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内容简介

　　广泛应用于民用和工业领域的基于SRAM的FPGA，因其逻辑集成度高、使用方便、开发成本低且能够被重新编程，正逐步应用于空间领域。空间领域的应用除了要求其具有很高的可靠性以外，抗辐射是必须重点考虑的问题。《基于SRAM的FPGA容错技术》针对这种需求，尤其是针对空间环境中单粒子效应的影响，详细介绍了基于SRAM的FPGA这种可编程结构的多种容错技术和方法。
　　《基于SRAM的FPGA容错技术》提及的技术和方法多是从实际容错系统中总结出来的，并进行了归类、分析和总结，同时附有参考文献。内容详尽丰富，实践

作者简介

　　费尔南达·古斯芒·德·利马·卡斯腾斯密得，是位于巴西阿雷格里港（Porlto Alegre）的南大河洲联邦大学（UFRGS）计算机科学系的教授。1997年，她从巴西阿雷格里港南大河洲联邦大学获电气工程学学士学位，1999年和2003年分别获计算机科学硕士学位和微电子学博士学位。1999年，她曾工作于法国的格勒诺布尔（Grenoble）国家理工学院（INPG）；2001年，工作于美国圣何塞（San Jose）的赛灵思（Xilinx）公司。她的研究兴趣包括超大规模集成电路（VLSI）测试和设计、故障效应、

内页插图

第1章引言
第2章集成电路中的辐射效应
2.1 辐射环境概述
2.2 集成电路中的辐射效应
2.2.1 SEU的分类
2.3 基于SRAM的FPGA的特有影响
第3章单粒子翻转(SEU)减缓技术
3.1 基于设计的技术
3.1.1 检测技术
3.1.2 减缓技术
3.2 ASIC中SEU减缓技术实例
3.3 FPGA中SEU减缓技术实例
3.3.1 基于反熔丝的FPGA
3.3.2 基于SRAM的FPGA
第4章结构层SEU减缓技术
第5章高层SEU减缓技术
5.

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精彩书摘

　　容错技术的开发与目标器件紧密相关，需要详细分析相关系统结构中的翻转效应。对于每一种电路，有其最适合的解决方法。在过去的几年中，集成电路工业为了追求更好的性能、更高的逻辑密度和更低的成本而使其结构越来越复杂，例如应用专用集成电路（ASIC），有数百万个晶体管的微处理器，高密度现场可编程门阵列（FPGA）组件以及最新的由嵌入式微处理器、存储器和模拟电路块组成的片上系统（SOC）。这些在单一芯片上提供大量信息处理能力的结构，给系统设计带来了重大的影响。它们的用途涵盖了广泛的应用领域，从便携系统到专用嵌入控制

前言/序言

　　本书介绍了用于可编程结构的多种容错技术，这种可编程结构就是著名的现场可编程门阵列（FPGA），通过静态随机访问存储器（SRAM）可进行用户定制。由于其具有信息密度大、性能高、开发成本较低及可重新编程的特性，FPGA在空间领域具有越来越多的应用价值。特别是基于SRAM的FPGA，对远距离任务很有价值，因为它能让用户在很短的时间间隔内任意多次重新编程。基于SRAM的FPGA和微控制器，是应用在空间领域众多器件的突出代表，也是本书重点讨论的内容，更具体的是指赛灵思公司（Xilinx）的Virtex系列和英特